Разработка методов исследования для определения СВЧ характеристик новейших изотропных и анизотропных диэлектрических материалов и наноразмерных пленок
Основное внимание уделено исследованию монокристаллов предназначенных для использования в качестве подложек для выращивания на них напряженных монокристаллических наноразмерных пленок.