Разработка физико-технических основ барьерных микро- и наноструктур устройств обработки сигналов
Разработанный метод входных импедансных характеристик позволяет получить новые знания о волновые свойства барьерных микро- и наноструктур и на этой основе новые эффективные технические решения. Как основанный на импедансе метод универсальный для волновых структур любой природы. Предложенный и разработанный метод импедансных неоднородностей сочетает преимущества импедансного подхода и локально сосредоточенных свойств -функции. Для многих структур решения аналитические.