Розробка фізико-технічних засад бар’єрних мікро- та наноструктур пристроїв оброблення сигналів
Розроблений метод вхідних імпедансних характеристик дозволяє отримати нові знання про хвильові властивості бар’єрних мікро- та наноструктур і на цій основі нові ефективні технічні рішення. Як заснований на імпедансі метод узагальнений для хвильових структур будь-якої природи.